HS-Code / TARIC / Zolltarifnummer Details
9030820000 - zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
Definition & Sprachversionen
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
Hinweis: Material, Verwendungszweck und Produktform zuerst pruefen und danach Hierarchie sowie deklarierbare Kandidaten vergleichen.
ZH
测量或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）的仪器及装置
DE
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
EN
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
Einordnungshinweise
Dieser Code wirkt wie ein direkt deklarierbarer Endcode und kann als Kandidat fuer die Zollanmeldung weiterverwendet werden.
Bitte Start-/Enddatum und den gueltigen Zollsatz beachten. Die anwendbare Regel kann sich zeitlich aendern.
Code
TARIC
90308200 00
CN (8 Stellen)
90308200
HS (6 Stellen)
903082
Datenstand
Mon Aug 31
Abgaben
Zollsatz (Import)
0,000%
Gueltig ab
Mon Jan 01
Rechtsgrundlage
Regulation 2448/95
Gueltigkeit & Menge
Startdatum
Mon Jan 01
Enddatum
-
Zusaetzliche Einheit
Nicht erforderlich
Code-Hierarchie
Handelsbeschraenkungen und Massnahmen
Hier sehen Sie zuerst die verdichtete Einordnung und darunter die bereits importierten TARIC-Massnahmen mit Geltungsbereich, Zusatzcode, Order No., Abgabenformel und Rechtsgrundlage.
Importierte Massnahmen: 1Mit Ursprungsscope: 1Mit Zusatzcode/Order No.: 0
Massnahme
Aktueller Wert
Hinweis / Gueltigkeit
Referenz-Zollsatz
0,000%
Gueltig ab Mon Jan 01
Rechtsgrundlage
Regulation 2448/95
-
Zusaetzliche Einheit
Nicht erforderlich
Zeitraum: Mon Jan 01 - -
Importierte TARIC-Massnahmen
Massnahme
Geltungsbereich
Abgabe / Codes
Gueltigkeit
Rechtsgrundlage
Import control on restricted goods and technologies
711
North Korea (Democratic People’s Republic of Korea)
Cond: Y cert: Y-920 (29):; Y (09):
Fri Sep 01 - -
Regulation 1509/17
Gleiche Ebene
9030100000
Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von ionisierenden Strahlen
9030200000
Oszilloskope und Oszillografen
9030310000
Multimeter, ohne Registriervorrichtung
9030320000
Multimeter, mit Registriervorrichtung
9030330000
andere, ohne Registriervorrichtung
9030390000
andere, mit Registriervorrichtung
9030400000
andere Instrumente, Apparate und Geräte, ihrer Beschaffenheit nach besonders für die Telekommunikation bestimmt (z.|B. Nebensprechmesser, Verstärkungsgradmesser, Verzerrungsmesser und Geräuschspannungsmesser)
9030840000
andere, mit Registriervorrichtung
9030890000
andere
9030900000
Teile und Zubehör
Diese Seite dient nur der Informationssuche auf Basis öffentlicher Daten und stellt keine Zoll-, Steuer- oder Rechtsberatung dar. Massgeblich sind offizielle TARIC/EZT-Quellen.
Hinweise zu TARIC-Aenderungen
Wenn ein monatliches TARIC-Update gelaufen ist, wird hier der Unterschied zur vorherigen Fassung angezeigt.
Quelle: interner TARIC-Diff (nur Hinweis)
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Aktuell
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltun
Typ: newQuellsprache: EN+DE
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